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美国TSI 3938扫描电迁移率粒径谱仪

美国TSI 3938扫描电迁移率粒径谱仪

型号:3938 类别: 粉尘检测仪 品牌:美国TSI pdf资料:美国TSI 3938扫描电迁移率粒径谱仪.pdf

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美国TSI 3938扫描电迁移率粒径谱仪由深圳市展业达鸿科技有限公司专业代理,本产品采用模块化、基于组件的设计,不但具有非常高的粒径分辨率,还具有快速扫描(每次扫描小于15秒)和自动组件识别功能,现在正在热销中,如有合作意向,可通过网站在线客服热线联系我们!
美国TSI 3938扫描电迁移率粒径谱仪
TSI 3938扫描电迁移率粒径谱仪特点与优势
高分辨率数据:高达167通道
1nm到1,000nm的极宽粒径范围
符合ISO 15900:2009标准
快速测量:<10s扫描
宽浓度范围,高达 10 7 颗粒/cm 3
给您最大灵活度的组件设计
触摸屏控制无需电脑操作
免工具安装易于设置,自动发现组件
审慎的颗粒测量:适合多模样品
不依赖于粒子和流体的光学性质
宽系统配置选项:可选水介质或丁醇介质凝聚粒子计数器;可选传统的或无辐射中和器  
 
TSI 3938扫描电迁移率粒径谱仪产品详情
TSI推出的SMPS TM 扫描电迁移率粒径谱仪被广泛应用于测量1微米以下的气溶胶粒径分布的测量标准。该系统同样被应用于对液体悬浮颗粒进行精确的纳米颗粒粒径测量。美国国家标准与技术局(NIST)使用TSI差分静电迁移率分析仪(DMA)对60nm和100nm的标准参考粒径进行测量。SMPS TM 扫描电迁移率粒径谱仪粒径测量是审慎的技术,在该技术方法中计数浓度会被直接测量而无需假设粒径分布的形状。该方法不依赖于粒子或液体的折射率且具有高度的绝对粒径测量精度和测量可重复性。TSI的3938型仪器是SMPS第三代产品,历经30年深受研究者信任。
 
TSI 3938扫描电迁移率粒径谱仪应用
纳米技术研究和材料合成
大气研究和环境检测
燃烧和发动机排放研究
室内空气质量测量
成核/凝结研究
吸入毒理学研究    
TSI 3938扫描电迁移率粒径谱仪所含项
与您自选DMA差分静电迁移率分析仪配套的静电分级器
七款凝聚粒子计数器之一
Aerosol Instrument Manager®气溶胶仪器管理软件  
用于数据采集的电脑须单独购买。

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