Phantech 荧光/发光线对 (USAF 1951) 分辨率模型介绍
Phantech提供第一个商用线对模型，用于评估荧光和发光光学成像系统的分辨率。我们的专有材料同时发出荧光和磷光，覆盖整个可见光谱并延伸至 NIR。我们的体模荧光光谱波长的特点是最适合几乎所有光学系统，包括荧光引导手术系统、荧光和生物发光研究成像系统以及荧光显微镜。1951 年的线对设计基于美国空军开发的空间频率，是一种用于表征和验证光学成像系统分辨率的标准。
标准线对分辨率模型为 3" x 3"。其他设计，例如 Derenzo Resolution Phantom，可以添加到 USAF 1951 Line Pair Resolution Phantom 的另一侧。
Phantech的荧光材料
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