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美国吉时利Keithley S530参数化测试系统

美国吉时利Keithley S530参数化测试系统

型号:S530 类别: 半导体特性测试仪 品牌: pdf资料:美国吉时利Keithley S530参数化测试系统.pdf

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美国吉时利Keithley S530参数化测试系统,通过自动探头测试台实现精密高速测量

吉时利Keithley S530参数化测试系统适用于必须操作各种设备和技术的生产和实验室环境,提供业界领先的测试计划灵活性、自动化、探头测试台集成以及测试数据管理功能。Keithley 拥有超过 30 年的专业经验,针对这些测试解决方案的设计向全世界的客户提供各种标准和自定义参数化测试仪。 Email:hongqi@thingstest.com

美国吉时利Keithley S530 参数化测试系统
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吉时利Keithley S530参数化测试系统功能

  • 能轻松适应新设备和测试要求
  • 快速、灵活、交互式测试计划制定
  • 兼容于常见的全自动探头测试台
  • 提供 1kV、C-V、脉冲生成、频率测量和低压测量选项
  • 兼容于 Keithley 的 9139A 型探头卡适配器
  • 支持重复使用现有的五英寸探头卡库
  • 经验证的仪器技术确保在实验室和工厂中实现高测量精度和可重复性
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