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吉时利Keithley S500集成式测试系统

吉时利Keithley S500集成式测试系统

型号:S500 类别: 半导体特性测试仪 品牌: pdf资料:吉时利Keithley S500集成式测试系统.pdf

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吉时利Keithley S500集成式测试系统

是高度可配置的、基于仪器的系统,适用于器件、晶片或暗盒级半导体检定。S500 集成式测试系统基于我们经过验证的仪器,提供创新的测量功能和系统灵活性,并且根据您的需求可进行扩展。独有的测量能力结合强大而灵活的自动化检定套件 (ACS) 软件,提供市场上其他同类系统无法提供的广泛应用和功能。



Keithley S500集成式测试系统

吉时利Keithley S500集成式测试系统功能

  • 全量程源测量单元 (SMU) 仪器技术规格,包括 subfemtoamp 测量,确保在几乎任何设备上都能执行广泛的测量。
  • 适用于内存检定、电荷泵、单脉冲 PIV(电荷陷阱分析)和 PIV 扫描(自加热回避)的脉冲生成和超快 I-V。
  • 利用支持 Keithley 系统的可扩展 SMU 仪器,提供低或高通道数系统,包括并行测试。
  • 适用于测试功率 MOSFET 和显示驱动器等测试器件的高电压、电流和功率源测量仪器。
  • 开关、探头卡和布线保证系统完全适用于您的 DUT。

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