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半导体特性测试仪

吉时利Keithley 708B半导体开关系统,Keith

美国吉时利Keithley 708B半导体开关系统,Keithley 707B半导体开关系统,适用于半导体研发和生产测试应用,半导体器件的高速和低电流要求高质量、高性能的 I-V 和 C-V 信号开关。我们为半导体研发和生产
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吉时利Keithley S500集成式测试系统

吉时利Keithley S500集成式测试系统,是高度可配置的、基于仪器的系统,适用于器件、晶片或暗盒级半导体检定。S500 集成式测试系统基于我们经过验证的仪器,提供创新的测量功能和系统灵活性,
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美国吉时利Keithley S530参数化测试系统

美国吉时利Keithley S530参数化测试系统,通过自动探头测试台实现精密高速测量,吉时利Keithley S530参数化测试系统适用于必须操作各种设备和技术的生产和实验室环境,提供业界领先的测试计划灵活
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吉时利Keithley PCT参数化波形记录器配置,

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吉时利Keithley 4200-SCS 参数分析仪,Keithley

美国吉时利Keithley 4200-SCS 参数分析仪,Keithley 4200-SCS半导体测试系统,适用于材料和设备电气检定的全面解决方案,4200-SCS 是一个模块化、完全集成的参数分析仪,用于执行材料、半导体器件和流程
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